塑料包装检测仪器Company profile

AT-CH薄膜测厚仪
 

产品简介

本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)、读数直观,使用方便。执行GB/T6672-2001标准。 

主要技术参数

1. 测量范围:0-1㎜  

2. 分度值:0.001㎜   

3. 上测头曲率半径:15~50㎜

4. 测头对试样施加负荷:0.1~0.5N